कुनै डाटा छैन।
सूचना
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290。 ^ 遠藤潤二, 電子線ホログラフイとその材料研究への応用 : 高感度干渉顕微法を中心として『日本金属学会会報』 1988年 27巻 7号 p.548-557, doi:10.2320/materia1962.27.548。 外村彰, 渡辺宏, 「電子線ホログラフィー」『日本物理学会誌』 1968年
アパーチャを有していて、それを通過する電子(線)は平行にされ、アパーチャに一連する磁界レンズによって焦点を合わせることができる。その結果生じる電子ビーム(おおよそ5nmから10マイクロメートルの直径)は、サンプルを横断走査(マッピング)するか、あるいはサンプルから様々な効果
一方、大きな細胞や組織であっても、凍結切片の作製や集束イオンビームによるミリング(FIB-milling)によって試料を薄くすることで、cryo-ETに供することができる。凍結切片は、凍結した細胞や組織のブロックをクライオミクロトームを用いて薄層試料へと加工することで作製される。FIB-millingでは、急速凍結
電流を流すための金属線。 主に銅・アルミニウムなどを使う。